Прибор измерения толщины тонких пленок MProbe 50

MProbe 50 - настольная система для измерения толщин тонких пленок и оптических свойств материалов в автоматическом режиме.

Область применения:

• Измерение толщины, оптических констант
• Измерение тонкопленочных гетероструктур солнечных элементов: aSi, TCO, CIGS, CdS, CdTe
• Органическая электроника (ОСИД)
• Оптические покрытия: фильтры, твердые покрытия, антибликовые (просветляющие) покрытия
• Полупроводники и диэлектрики: оксиды, нитриды, фоторезист, полимеры

Особенности:

• Позволяет получить карту измерений по всей поверхности пластины
• Создание рецептов, с заданием количества точек измерений
• Моторизованный столик для работы с пластинами диаметром до 300 мм
• Измерение и анализ данных в режиме реального времени
• Обширная предустановленная библиотека материалов (более 500) с возможностью самостоятельного дополнения и редактирования
• Специализированное программное обеспечение с интуитивно понятным интерфейсом
• Простая интеграция при помощи интерфейса USB 2.0
• Компактный размер